XPS檢測認(rèn)證

x射線光電子能譜分析(xps測試)
x射線光電子能譜是分析物質(zhì)表面化學(xué)性質(zhì)的一項技術(shù)。x射線檢測技術(shù)(radioaraphicesting，即rt)是利用射線(x射線
射線中子射線等)穿過物體時的吸收和散射的特性，檢測其內(nèi)部結(jié)構(gòu)不連續(xù)性的技術(shù)。xps可測量材料中元表組成，經(jīng)驗公
式元素化學(xué)態(tài)和電子態(tài)。用一束x射線激發(fā)固體表面，同時測量被分析材料表面1-10nm內(nèi)發(fā)射出電子的動能，而得到xps
譜。光電子譜記錄超過一定動能的電子。光電子譜中出現(xiàn)的譜峰為原子中一定特征能量電子的發(fā)射，光電子譜峰的能量和強(qiáng)度可用于定性和定量分析所有表面元毒(氣元毒除外)。
x射線光電子能譜分析(xps測試)被廣泛應(yīng)用范圍
無機(jī)材料和有機(jī)材料中，如合金、半導(dǎo)體、聚合物、元素、催化劑、玻璃、陶瓷、染料、紙、墨水、木材、化妝品、牙齒、骨骼、移植物、生物材料、油脂、膠水、金屬、合金、半導(dǎo)體、有機(jī)物、無機(jī)物、薄膜、納米材料等
xps主要能夠分析以下方面的內(nèi)容:
1.元素的定性分析。可以根據(jù)能譜圖中出現(xiàn)的特征譜線的位置鑒定除h，he以外的所有元素。
2.元素的定量分析。根據(jù)能譜圖中光電子譜線強(qiáng)度(光電子峰的面積)反應(yīng)原子的含量或相對濃度。
3.固體表面分析。包括表面的化學(xué)組成或元素組成，原子價態(tài)，表面能態(tài)分布，測定表面電子的電子云分布和能級結(jié)構(gòu)等。
4.化合物的結(jié)構(gòu)。可以對內(nèi)層電子結(jié)合能的化學(xué)位移**測量，提供化學(xué)鍵和電荷分布方面的信息。
5分子生物學(xué)中的應(yīng)用。如利用xps鑒定維生素b12中的少量的co。
6.樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)三維可視化
7.內(nèi)部結(jié)構(gòu)尺寸測量
8.不同組分結(jié)構(gòu)二維/一維表征及形態(tài)學(xué)分析
9.內(nèi)部缺陷/孔隙/梨紋表征及形態(tài)學(xué)統(tǒng)計，分析
10.纖維類樣品三維空間取向統(tǒng)計、分析
11.材料內(nèi)部滲流模擬與分析計算
12.多孔材料壁厚分析
13顆粒之間夾雜物以及表面包事物體積計算
14.材料內(nèi)部成分均勻性計算