元器件失效分析-蘇州特斯特-元器件失效分析方法

超景深顯微鏡是一種雙目觀察的連續(xù)變倍實(shí)體顯微鏡，專為要求工作距離長(zhǎng)，觀察視域大的用戶而設(shè)計(jì)，成像清晰，外形美觀。產(chǎn)品用途：超景深顯微鏡能將微小的物體加以放大，形成清晰正的立體像。可供衛(wèi)生、農(nóng)林、、學(xué)校、科研部門作觀察分析用，也適用于電子工業(yè)和儀器儀表行業(yè)作精細(xì)零部件的檢驗(yàn)、裝配、修理。連續(xù)變倍單筒視頻顯微鏡提供的光學(xué)系統(tǒng)和*可靠的操作機(jī)構(gòu)。
超聲波顯微鏡是通過(guò)像素pixel進(jìn)行體現(xiàn)，然而光學(xué)鏡卻以ccd攝像頭為主，元器件失效分析，也正因?yàn)榻Y(jié)構(gòu)上的差異，所以超聲波掃描顯微鏡的價(jià)格是普通工顯鏡的數(shù)倍，元器件失效性分析，不僅如此，它們的應(yīng)用領(lǐng)域也有著*大的差距，超聲波掃描顯微鏡幾乎囊括了光學(xué)顯微鏡的所有領(lǐng)域，而且它尤其在材料半導(dǎo)體行業(yè)應(yīng)用更廣。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測(cè)試、檢測(cè)儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，元器件失效分析方法，線纜線束的測(cè)試與檢測(cè)。
超聲波掃描顯微鏡特點(diǎn)：非*性、對(duì)樣品無(wú)損壞。分辨率高，可確定缺陷在樣品內(nèi)部的準(zhǔn)確位置。工作方式按接收信息模式可分為反射模式與透射模式。按掃描方式分可分為 c掃，電子元器件失效分析單位，b掃，x掃，z掃，分焦距掃描，分波長(zhǎng)掃描等多種方式。二次打標(biāo)假l冒識(shí)別塑封器件二次打標(biāo)可用于塑封元器件表面標(biāo)識(shí)的假l冒識(shí)別，通過(guò)對(duì)期間標(biāo)識(shí)層的多層掃描可發(fā)現(xiàn)二次打標(biāo)痕跡。
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