crystal晶體諧振器封裝尺寸-凱擎東光KOAN

koan 諧振器的電性能參數(shù)
koan 晶體諧振器之 r1 諧振電阻（能耗），動態(tài)電感 l 和 dld2：諧振電阻 r1 與 q 值（品質(zhì)因數(shù)）成反比，crystal晶體諧振器價格，q 值由生長水晶料品質(zhì)決定，越高，固有頻率越穩(wěn)定。動態(tài)電感 l，crystal晶體諧振器，表征振動質(zhì)量，與頻率大小成反比。dld2：激勵功率變化引起的阻*變化，由殘留應(yīng)力和制造污染造成，越小越好。小型化發(fā)展趨勢：諧振電阻（r1）變大，cl 變低。
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koan 晶體諧振器使用過程常見問題介紹
晶體振蕩回路頻率不準(zhǔn)，溫度變化精度不準(zhǔn)，批量使用出現(xiàn)不起振的，工作一段時間出現(xiàn)不工作的現(xiàn)象，頻率不準(zhǔn)確超出出廠標(biāo)準(zhǔn)，造成通訊錯誤，ic 通訊異常，crystal晶體諧振器廠家，以上情況都需要考慮晶體質(zhì)量可能出現(xiàn)問題，需要交給供應(yīng)做質(zhì)量分析報告，如果確認(rèn)不是晶體質(zhì)量出現(xiàn)問題，應(yīng)考慮晶體振蕩回路沒有匹配好，或者選型錯誤，或者功率問題。
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koan 晶體采用不同大小激勵功率測試以提高穩(wěn)定性
弛豫效應(yīng)：加在晶片上的機(jī)械應(yīng)力隨時間的推移而松弛時，會引起頻率的*移，因此要選擇合適的激勵功率，使晶片的自身應(yīng)力和電*施于晶片的應(yīng)力發(fā)生變化，應(yīng)力的變化又導(dǎo)致因應(yīng)力弛豫效應(yīng)引起的老化速率發(fā)生變化。另外，激勵功率變化，將引起晶片振幅的變化，從而改變晶片上質(zhì)量遷移引起的老化速率，可能抵消兩種老化速率。
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